Оптико-электронная система для измерения спектральных характеристик Оптико-электронная система для измерения спектральных характеристик в спектральном диапазоне 1-2 мкм базируется на системе спектральной фильтрации и системе регистрации и визуализации, что позволяет с высокой точностью и оперативностью измерять спектральные характеристики излучений, в том числе слабых источников. |